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| キャピラリーレオメーター | 液体ｸﾛﾏﾄｸﾞﾗﾌ GPC分析ｼｽﾃﾑ |
化学吸着分析 |
| RHEOGRAPH 20HD | OMNISECREV EALCHR6300 |
BELSORP-MAXⅡ 034VP-MZ |
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| 熱可塑性樹脂の射出成形シミュレーション等に必要な、せん断速度に対する粘度、PVT、熱伝導率の測定が可能です。 | 静的光散乱法（SLS)の原理に基づき、散乱する光の強度と分子量およびサイズの相関から絶対分子量を測定する装置です。７°と90°の２つの角度から散乱強度を検出し、SLSとカラムによる分離を行うことで溶出クロマトグラムの任意の点での絶対分子量を計算することが可能です。 | 窒素等の気体を、試料が持っている空孔に導入することによりその導入量から試料が持っている空孔の形の種類や大きさを解析できます。 |
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| 繊維径・曲率分布分析 | 繊維長分布分析 | 粒度分布分析 |
| DIAMSCOPE | CamsizerX2 | Particle Insight |
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| 大学連携登録設備 | 大学連携登録設備 | 大学連携登録設備 |
| 水に分散させた繊維の直径、曲率、⾧さの平均と分布を測定可能です。特有な画像解析アルゴリズムにより、下限値0.2μmまで繊維直径を計測できます。 | 粒子のサイズや形状を測定します。大きなアスペクト比の繊維状フィラーに対してμmオーダーの繊維径と数mmレベルの⾧さを同時に測定できることが特徴です。 | 粒子を高感度CCDカメラを用いて撮像し、画像から実際の形状を反映した粒子径分布や粒子形状に関する情報を取得することができます。 |
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| 自動研磨機 | 原子間力顕微鏡 | デジタルマイクロスコープ |
| IS-Polisher ISPP-1000 |
AFM5500M | VHX-7000 |
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| 研磨条件を数値で設定でき、また削り過ぎ防止のため削り量を2μm単位で設定できます。 | 原子間力顕微鏡（AFM)はカンチレバー（探針）と試料に作用する原子間力を利用し表面形状や弾性率を定量化する顕微鏡です。表面状態を観察するコンタクトモードと振動させたカンチレバーが試料表面を跳ねるように上下に動き、表面状態を測定するDFM（Dynamic force microscope)法の測定が可能です。 | 20から6000倍までシームレスで倍率変更が可能で広い視野での観察と詳細部の高倍率解析を両立できる光学顕微鏡です。また微細な凹凸を測定することも可能です。 |
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| 3D測定レーザー顕微鏡 | 3Dスキャナ型三次元測定機 | 非接触電位計測装置 |
| OLS-5000-SAT | VL-350 | SKP5050 |
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| サンプルの表面をレーザー光でスキャンすることにより微細形状の拡大観察や、表面粗さ、段差などの形状測定が可能な測定機です。 | 複雑な立体形状を３６０度まるごと３D測定できます。ワンクリックで自動スキャンします。3次元のサンプルの様々な計測が可能です。 | 金属表面の腐食電位を非接触2次元で定量化可能です。 |
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| 酸化還元装置 | 小型プログラム電気炉 | 偏光顕微鏡 （ホットステージ付き デジタルマイクロスコープ） |
| TDC‐200GB-E | MMF | Laica DM2700P |
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| 金属表面の酸化皮膜の膜厚/速度/(組成)の制御が可能です。 | 最高温度800℃の電気炉。16ステップのプログラムを4パターンまで設定可能。PID制御。温度勾配の設定が可能。 | 複屈折物質の光学的性質を観察するため偏光レンズや偏光板などを組み合わせた顕微鏡にメトラー・トレド製のホットステージHS82を備えます。２７インチモニタにも表示するデジタルマイクロスコープとしても使用可。 |
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| FTIR(赤外顕微鏡) | ||
| IRTRACER-100 AIM-9000 |
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| 大学連携登録設備 | ||
| 物質に赤外光を照射し、透過光・反射光の信号強度をフーリエ変換することでスペクトル情報を取得し、分子構造・官能基を定量、同定します。顕微鏡付加し、微小領域を測定可能、イメージングにより測定対象物に含有される成分の分布や化学構造を可視化します。 | ||
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